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Product CategorySurtronic S128泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)A類型USB接口和迷你USB接口,S-100系列測量儀能夠?qū)Χ喾N標(biāo)準(zhǔn)裝置提供多種連接選擇。 A類型USB A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機(jī)(ESC/POS兼容),參見“配件“頁或者標(biāo)準(zhǔn)USB儲存裝置,儲存結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。
S116 Surtronic泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)A類型USB接口和迷你USB接口,S-100系列測量儀能夠?qū)Χ喾N標(biāo)準(zhǔn)裝置提供多種連接選擇。 A類型USB A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機(jī)(ESC/POS兼容),參見“配件“頁或者標(biāo)準(zhǔn)USB儲存裝置,儲存結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。
UVCTest材料降解儀器使用亞太拉斯 UVCTest,研究暴露在以254nm為峰值的殺菌消毒UV-C輻射下,紡織品、塑料、油漆和產(chǎn)品的老化情況。
SEPAPMHE光老化分析儀Atlas SEPAP MHE光老化分析儀是為了加快高分子聚合物的加速光老化而設(shè)計(jì),目的在于了解暴露在戶外的高分子聚合物的老化機(jī)理,并在分子水平上研究化學(xué)演化。
力科T3SP15D差分時(shí)域反射計(jì) T3SP10D(10 GHz)和T3SP15D(15 GHz)通過真正的差分信號激勵(lì)DUT,TDR提供50 ps(T3SP10D)和35 ps(T3SP15D)的快速上升時(shí)間,故障分辨率(FR4)分別為4.2 mm和3 mm,DUT長度可達(dá)40 m,TDR采樣率最高可達(dá)10 MHz,并使用與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相同的OSL校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。 由于外形小巧,重量輕,可選內(nèi)部電池
聯(lián)訊rBT1250 10G突發(fā)誤碼分析儀 rBT1250 專門針對 EPON、GPON 、XGPON及XGSPON應(yīng)用突發(fā)誤碼測試及分析。 rBT1250提供3個(gè)獨(dú)立通道數(shù)據(jù)碼型發(fā)生器和誤碼探測,支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析。碼型時(shí)序靈活可調(diào),并針對器件測試需求,給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、模塊復(fù)位信號等低速控制通道。而且rBT1250 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù),可以自動(dòng)測距,對長纖測試毫無問題。從
聯(lián)訊PBT8812 53GBaud PAM4誤碼儀 聯(lián)訊儀器 pBT8812 高性能8x112Gb/s誤碼分析儀,可支持多至8組業(yè)務(wù)通道。 - 各通道可獨(dú)立配置為NRZ或PAM4信號制式。 - 速率最高可支持56 GBaud (112Gb/s@Pam4)。
聯(lián)訊PBT8856 PAM4誤碼儀28GBaud 多通道:1/2/4/8路PAM4碼型發(fā)生器及誤碼探測器通道; 速率(準(zhǔn))連續(xù)可調(diào):25/25.78125/26.56/27.89/28.125GBaud標(biāo)準(zhǔn)測試速率; 輸出幅度可調(diào)
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